{"id":2293,"date":"2026-05-22T03:54:59","date_gmt":"2026-05-22T03:54:59","guid":{"rendered":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/?p=2293"},"modified":"2026-05-22T09:16:18","modified_gmt":"2026-05-22T09:16:18","slug":"manufacturing-challenges-of-complex-structured-ceramic-components-for-semiconductor-equipment","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/manufacturing-challenges-of-complex-structured-ceramic-components-for-semiconductor-equipment\/","title":{"rendered":"Retos de fabricaci\u00f3n de componentes cer\u00e1micos de estructura compleja para equipos semiconductores"},"content":{"rendered":"<p class=\"wp-block-paragraph\">En la fabricaci\u00f3n avanzada de semiconductores, los principales m\u00f3dulos de proceso, como el grabado por plasma, el dep\u00f3sito qu\u00edmico en fase vapor (CVD) y la implantaci\u00f3n i\u00f3nica, funcionan en entornos extremos con plasma de alta energ\u00eda, gases corrosivos, alta tensi\u00f3n y ciclos t\u00e9rmicos r\u00e1pidos. Estas condiciones imponen requisitos estrictos a los materiales estructurales en t\u00e9rminos de estabilidad diel\u00e9ctrica, resistencia a la corrosi\u00f3n, compatibilidad t\u00e9rmica y fiabilidad dimensional a largo plazo.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\"><a href=\"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/productos\/\" data-type=\"page\" data-id=\"1921\">Cer\u00e1mica de ingenier\u00eda avanzada<\/a>-como la al\u00famina (Al\u2082O\u2083), el nitruro de aluminio (AlN), el carburo de silicio (SiC) y el nitruro de silicio (Si\u2083N\u2084)- se han hecho indispensables por su excelente combinaci\u00f3n de estabilidad t\u00e9rmica, el\u00e9ctrica y qu\u00edmica. Sin embargo, la continua evoluci\u00f3n de los equipos semiconductores hacia la miniaturizaci\u00f3n y la integraci\u00f3n funcional ha hecho que los componentes cer\u00e1micos pasen de geometr\u00edas sencillas a arquitecturas muy complejas, como redes de microcanales, matrices porosas, estructuras de paredes finas y superficies de curvatura m\u00faltiple.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Estas complejidades geom\u00e9tricas, combinadas con la fragilidad intr\u00ednseca y la baja resistencia a la fractura de la cer\u00e1mica, han transformado la fabricaci\u00f3n en un reto de ingenier\u00eda a m\u00faltiples escalas. En este art\u00edculo se examinan los principales obst\u00e1culos t\u00e9cnicos y las tecnolog\u00edas que los hacen posibles en tres etapas fundamentales: conformado, sinterizado y mecanizado de precisi\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"683\" src=\"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-1024x683.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-2294\" srcset=\"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-1024x683.png 1024w, https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-300x200.png 300w, https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-768x512.png 768w, https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-18x12.png 18w, https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment-600x400.png 600w, https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/Manufacturing-Challenges-of-Complex-Structured-Ceramic-Components-for-Semiconductor-Equipment.png 1536w\" sizes=\"(max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">1. Introducci\u00f3n: De los materiales funcionales a las limitaciones estructurales<\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Los materiales cer\u00e1micos son ampliamente reconocidos por su excepcional dureza, alto m\u00f3dulo, excelente resistencia al desgaste e inercia qu\u00edmica. En los equipos semiconductores, se utilizan habitualmente en mandriles electrost\u00e1ticos (ESC), cabezales de ducha, anillos de enfoque, anillos aislantes y carcasas de sensores.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Sin embargo, a medida que las arquitecturas de los dispositivos se vuelven m\u00e1s sofisticadas, los componentes cer\u00e1micos ya no se limitan a simples discos, anillos o bloques. En su lugar, ahora requieren:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Matrices de microagujeros de alta densidad<\/li>\n\n\n\n<li>Geometr\u00edas huecas de pared delgada<\/li>\n\n\n\n<li>Superficies complejas no axisim\u00e9tricas<\/li>\n\n\n\n<li>Canales de flujo de gas o refrigerante integrados<\/li>\n\n\n\n<li>Interfaces funcionales multiescala<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Esta transformaci\u00f3n aumenta significativamente la dificultad de fabricaci\u00f3n, ya que incluso peque\u00f1os gradientes de densidad o desajustes t\u00e9rmicos durante el procesamiento pueden provocar grietas, alabeos o fallos catastr\u00f3ficos.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">2. Tecnolog\u00edas de conformado: Hacia la fabricaci\u00f3n de geometr\u00edas complejas casi en red<\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">La fase de conformado es fundamental para definir la geometr\u00eda final y la homogeneidad interna de los componentes cer\u00e1micos. Los procesos convencionales, como el prensado en seco y el colado por deslizamiento, son cada vez m\u00e1s insuficientes debido a las limitaciones del molde y a la distribuci\u00f3n no uniforme de la densidad del cuerpo verde.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.1 Moldeado en gel (moldeo por inyecci\u00f3n de gel)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">La fundici\u00f3n en gel es una t\u00e9cnica de formaci\u00f3n de formas casi de red en la que se inyecta una lechada cer\u00e1mica de baja viscosidad y alta carga de s\u00f3lidos en un molde que contiene mon\u00f3meros org\u00e1nicos, reticulantes e iniciadores. La polimerizaci\u00f3n in situ forma una red de gel tridimensional que inmoviliza uniformemente las part\u00edculas cer\u00e1micas.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Entre sus principales ventajas figuran:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Excelente retenci\u00f3n de la forma con m\u00ednima deformaci\u00f3n por secado<\/li>\n\n\n\n<li>Distribuci\u00f3n uniforme de la densidad verde<\/li>\n\n\n\n<li>Idoneidad para geometr\u00edas grandes, de paredes finas y complejas<\/li>\n\n\n\n<li>Reducci\u00f3n del margen de mecanizado tras la sinterizaci\u00f3n<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Este m\u00e9todo es especialmente adecuado para sustratos ESC y componentes orientados al plasma que requieren una gran precisi\u00f3n dimensional.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.2 Moldeo por inyecci\u00f3n de cer\u00e1mica (CIM)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">El moldeo por inyecci\u00f3n de cer\u00e1mica integra polvos cer\u00e1micos con aglutinantes polim\u00e9ricos para formar una materia prima termopl\u00e1stica, que luego se inyecta a presi\u00f3n en moldes met\u00e1licos.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">En comparaci\u00f3n con los m\u00e9todos de prensado tradicionales, el CIM ofrece:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Alta capacidad de complejidad geom\u00e9trica<\/li>\n\n\n\n<li>Mayor uniformidad de la densidad verde<\/li>\n\n\n\n<li>Alta productividad para la producci\u00f3n en serie<\/li>\n\n\n\n<li>Idoneidad para componentes peque\u00f1os y complejos, como carcasas de sensores y anillos aislantes<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Sin embargo, el proceso implica etapas cr\u00edticas de desbastado y sinterizaci\u00f3n, en las que pueden producirse defectos como grietas o distorsiones si no se controla cuidadosamente la eliminaci\u00f3n del aglutinante.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.3 Prensado isost\u00e1tico en fr\u00edo (CIP)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Para componentes axisim\u00e9tricos como los anillos de enfoque, la CIP aplica una presi\u00f3n hidrost\u00e1tica uniforme a trav\u00e9s de un medio fluido para compactar el polvo dentro de un molde flexible.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Las ventajas incluyen:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Distribuci\u00f3n uniforme de la densidad en todas las direcciones<\/li>\n\n\n\n<li>Reducci\u00f3n de la contracci\u00f3n anisotr\u00f3pica durante la sinterizaci\u00f3n<\/li>\n\n\n\n<li>Mejora de la integridad estructural de las piezas con simetr\u00eda de rotaci\u00f3n<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">2.4 Fabricaci\u00f3n aditiva (impresi\u00f3n cer\u00e1mica en 3D)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Las tecnolog\u00edas de fabricaci\u00f3n aditiva, como el procesamiento digital de la luz (DLP) y la escritura directa de tinta (DIW), permiten fabricar geometr\u00edas internas imposibles con moldes convencionales.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Las aplicaciones t\u00edpicas son:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Prototipos de ESC con canales de refrigeraci\u00f3n integrados<\/li>\n\n\n\n<li>Arquitecturas complejas de flujo interno<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Sin embargo, las limitaciones actuales incluyen una carga s\u00f3lida relativamente baja, lo que provoca una mayor contracci\u00f3n y una densidad final reducida tras la sinterizaci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">3. Retos de la sinterizaci\u00f3n: Control de la contracci\u00f3n y la evoluci\u00f3n microestructural<\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">La sinterizaci\u00f3n transforma los cuerpos verdes en componentes cer\u00e1micos densos, pero va acompa\u00f1ada de una contracci\u00f3n lineal significativa, normalmente del orden de 15-25%.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">En geometr\u00edas complejas, el espesor no uniforme provoca variaciones espaciales en las tasas de densificaci\u00f3n, lo que da lugar a:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Contracci\u00f3n diferencial<\/li>\n\n\n\n<li>Deformaci\u00f3n y distorsi\u00f3n<\/li>\n\n\n\n<li>Iniciaci\u00f3n y propagaci\u00f3n de grietas<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.1 Sinterizaci\u00f3n por prensado en caliente<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Se aplica presi\u00f3n externa uniaxial o isost\u00e1tica durante la sinterizaci\u00f3n para mejorar el transporte de masa, reducir la temperatura de densificaci\u00f3n y suprimir el crecimiento de grano. Este m\u00e9todo es eficaz para mantener la fidelidad dimensional en ESC y cabezales de ducha de plasma.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.2 Sinterizaci\u00f3n a presi\u00f3n de gas<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Se aplica presi\u00f3n de gas inerte (por ejemplo, nitr\u00f3geno o arg\u00f3n) a temperaturas elevadas para suprimir la volatilizaci\u00f3n y promover una densificaci\u00f3n uniforme, especialmente en materiales propensos a la descomposici\u00f3n a alta temperatura.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.3 Sinterizaci\u00f3n por plasma de chispa (SPS)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">El SPS utiliza corriente continua pulsada y calentamiento localizado asistido por plasma para lograr una r\u00e1pida densificaci\u00f3n. La densificaci\u00f3n casi simult\u00e1nea en diferentes regiones minimiza los gradientes de contracci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Entre sus limitaciones se encuentran las restricciones de tama\u00f1o debidas a las dimensiones de la c\u00e1mara del equipo, que lo hacen adecuado principalmente para peque\u00f1os componentes de precisi\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">3.4 Sinterizaci\u00f3n por microondas<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">La energ\u00eda de microondas induce un calentamiento volum\u00e9trico a trav\u00e9s de p\u00e9rdidas diel\u00e9ctricas y conductoras, lo que da lugar a una distribuci\u00f3n r\u00e1pida y uniforme de la temperatura. Esto reduce los gradientes t\u00e9rmicos y disminuye significativamente el riesgo de deformaci\u00f3n y agrietamiento.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">4. Mecanizado de precisi\u00f3n: De la fractura fr\u00e1gil a la ingenier\u00eda de superficies de ultraprecisi\u00f3n<\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Tras la sinterizaci\u00f3n, los componentes cer\u00e1micos suelen requerir un mecanizado de precisi\u00f3n para conseguir tolerancias dimensionales submicrom\u00e9tricas y una rugosidad superficial a escala nanom\u00e9trica.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Sin embargo, la fragilidad intr\u00ednseca de la cer\u00e1mica plantea grandes retos:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Desgaste r\u00e1pido de la herramienta<\/li>\n\n\n\n<li>Desconchones en los bordes y da\u00f1os en el subsuelo<\/li>\n\n\n\n<li>Formaci\u00f3n de microfisuras bajo tensi\u00f3n mec\u00e1nica<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Para estructuras complejas, como matrices de microagujeros y elementos de paredes finas, los m\u00e9todos de rectificado convencionales suelen ser insuficientes.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.1 Mecanizado por flujo abrasivo (AFM)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Un medio abrasivo viscoel\u00e1stico es forzado a trav\u00e9s de canales internos y microagujeros bajo presi\u00f3n, lo que permite una eliminaci\u00f3n uniforme del material y la eliminaci\u00f3n de rebabas en regiones inaccesibles.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.2 Procesado l\u00e1ser<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Los l\u00e1seres de femtosegundos y picosegundos permiten realizar perforaciones y modificaciones superficiales ultraprecisas con zonas de da\u00f1o t\u00e9rmico m\u00ednimas (&lt;0,01 \u03bcm). Esta t\u00e9cnica es especialmente adecuada para corregir microdefectos y procesar cavidades internas.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.3 Acabado asistido por campo magn\u00e9tico<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Un fluido de pulido magnetoreol\u00f3gico forma una \u201cherramienta flexible\u201d controlable bajo campos magn\u00e9ticos, lo que permite un acabado de alta precisi\u00f3n de superficies curvas, de paredes finas e internas.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">4.4 Pulido asistido por plasma (PAP)<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">PAP modifica la superficie cer\u00e1mica en una capa de reacci\u00f3n m\u00e1s blanda mediante activaci\u00f3n por plasma, seguida de pulido a baja fuerza. Este mecanismo h\u00edbrido permite suavizar la superficie a escala at\u00f3mica con un da\u00f1o m\u00ednimo de la subsuperficie.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">5. Conclusi\u00f3n<\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">La transici\u00f3n de los componentes cer\u00e1micos semiconductores de geometr\u00edas simples a complejas arquitecturas multiescala ha redefinido fundamentalmente los requisitos de fabricaci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">A lo largo de las etapas de conformado, sinterizado y mecanizado de precisi\u00f3n, el reto central reside en gestionar la contradicci\u00f3n entre:<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>Alta complejidad geom\u00e9trica<\/li>\n\n\n\n<li>Fragilidad intr\u00ednseca de la cer\u00e1mica<\/li>\n\n\n\n<li>Efectos de transformaci\u00f3n acoplados de campos m\u00faltiples (t\u00e9rmicos, mec\u00e1nicos, qu\u00edmicos)<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Los avances futuros depender\u00e1n de la integraci\u00f3n del dise\u00f1o digital, el conformado de formas cercanas a la red, el control de sinterizaci\u00f3n multicampo y las tecnolog\u00edas de mecanizado h\u00edbrido de ultraprecisi\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">S\u00f3lo mediante la coordinaci\u00f3n sistem\u00e1tica de estas fases del proceso podr\u00e1 la cer\u00e1mica avanzada desarrollar plenamente su potencial en los equipos semiconductores de pr\u00f3xima generaci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">PREGUNTAS FRECUENTES<\/h2>\n\n\n<div id=\"rank-math-faq\" class=\"rank-math-block\">\n<div class=\"rank-math-list\">\n<div id=\"faq-question-1779418509939\" class=\"rank-math-list-item\">\n<h3 class=\"rank-math-question\">\u00bfPor qu\u00e9 se prefiere la cer\u00e1mica a los metales en los componentes de los equipos semiconductores?<\/h3>\n<div class=\"rank-math-answer\">\n\n<p>Cer\u00e1micas como Al\u2082O\u2083, AlN, SiC y Si\u2083N\u2084 ofrecen un aislamiento diel\u00e9ctrico, una resistencia a la corrosi\u00f3n por plasma y una estabilidad t\u00e9rmica superiores a los de la mayor\u00eda de los metales. En entornos de semiconductores ricos en plasma, los metales tienden a sufrir erosi\u00f3n, contaminaci\u00f3n e inestabilidad el\u00e9ctrica, mientras que la cer\u00e1mica mantiene la integridad estructural y qu\u00edmica durante largos ciclos operativos.<\/p>\n\n<\/div>\n<\/div>\n<div id=\"faq-question-1779418512338\" class=\"rank-math-list-item\">\n<h3 class=\"rank-math-question\">\u00bfCu\u00e1l es el mayor reto de la fabricaci\u00f3n de geometr\u00edas cer\u00e1micas complejas?<\/h3>\n<div class=\"rank-math-answer\">\n\n<p>El principal reto consiste en controlar la formaci\u00f3n de defectos en m\u00faltiples etapas, especialmente la densidad no uniforme durante el conformado, la contracci\u00f3n diferencial durante la sinterizaci\u00f3n y los da\u00f1os en la subsuperficie durante el mecanizado. Dado que la cer\u00e1mica tiene una baja resistencia a la fractura, incluso los gradientes de tensi\u00f3n menores inducidos por el proceso pueden provocar grietas, alabeos o fallos catastr\u00f3ficos.<\/p>\n\n<\/div>\n<\/div>\n<div id=\"faq-question-1779418513317\" class=\"rank-math-list-item\">\n<h3 class=\"rank-math-question\">\u00bfPuede la fabricaci\u00f3n aditiva sustituir por completo a los m\u00e9todos tradicionales de conformado de cer\u00e1mica?<\/h3>\n<div class=\"rank-math-answer\">\n\n<p>Actualmente no. Aunque la impresi\u00f3n cer\u00e1mica en 3D permite una libertad geom\u00e9trica inigualable (como canales internos y estructuras reticulares), sigue estando limitada por una carga s\u00f3lida relativamente baja, una mayor contracci\u00f3n y restricciones de densidad tras la sinterizaci\u00f3n. En la actualidad, se utiliza mejor para prototipos o componentes muy especializados que para la producci\u00f3n en serie a gran escala.<\/p>\n\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>In advanced semiconductor manufacturing, key process modules such as plasma etching, chemical vapor deposition (CVD), and ion implantation operate under extreme environments involving high-energy plasma, corrosive gases, high voltage bias, and rapid thermal cycling. These conditions impose stringent requirements on structural materials in terms of dielectric stability, corrosion resistance, thermal compatibility, and long-term dimensional reliability. [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":2294,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"site-sidebar-layout":"default","site-content-layout":"","ast-site-content-layout":"default","site-content-style":"default","site-sidebar-style":"default","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"","footer-sml-layout":"","ast-disable-related-posts":"","theme-transparent-header-meta":"","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"set","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"ast-content-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-opacity":"","overlay-gradient":""}},"footnotes":""},"categories":[3],"tags":[48,511,90],"class_list":["post-2293","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-news","tag-ceramic-components","tag-complex-structured-ceramic-components","tag-semiconductor-equipment"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2293","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2293"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2293\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2295,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/2293\/revisions\/2295"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2294"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2293"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=2293"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xkh-ceramics.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=2293"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}